此台衍射仪日常多进行样品物相的定性和定量分析、点参测定、晶粒大小、结晶度和X射线全谱拟合分析（Rietveld）等。

1. 铜靶，转靶，高功率衍射仪，测试电压电流为40 kV / 150 mA。

2. 测试角度范围为3°~140°。

3. 卧式测角仪，左右两侧可同时独立测试，使用效率高。

4. 左侧配有实验室首创的SDD探测记录系统（在峰背比不变的情况下，强度可提高约3倍）。

5. 右侧配有旋转样品台，可以减小大颗粒样品带来的角度、强度和线形的测量误差。

6. 右侧配有Kα1前单色器和阵列探测器，可以在保证测试强度的情况下，提高测试数据的分辨率。

7. 配有手动吸收片，除了多晶样品外，还可以测试单晶基片上的薄膜样品及强织构样品。

此台衍射仪日常多进行样品物相的定性和定量分析、点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。晶粒大小和结晶度分析等。

1. 铜靶，转靶，高功率衍射仪，测试电压电流为40 kV / 150 mA。

2. 测试角度范围为3°~140°。

3. 多功能样品台，旋转吸收片，可以进行单晶基片类样品或强织构样品的测试；除常规theta/2theta测试外，还可以进行2theta/omega测试、摇摆曲线测试、phi扫描测试、极图测试和应力测试等。

4. 立式测角仪，样品平放且测试过程中静止不动，所以可以测试粉末样品，块体样品和薄片样品。

此台衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析，点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。

1. 铜靶，光管，测试电压电流为40 kV / 40 mA。

2. 有高温加热装置，可进行变温测试（温度范围为25℃~900℃）；

3. 双光路系统（聚焦光路和平行光路），可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换，因此除常规theta/2theta测试外，还可进行掠入射测试。

4. 尤拉环样品台，旋转吸收片，可以进行单晶基片类样品或强织构样品的测试；

5. 可进行不同方法的应力测试。

6. 新型的阵列探测器(能量分辨率为380 eV)，能自动排除样品中Fe、Co、Ni、Mn等荧光元素的干扰，保证数据具有很好的峰背比，对于测试含荧光元素的样品有着非常明显的优越性。

此台衍射仪日常多进行样品物相的定性和定量测试、测试分析点阵参数、晶粒尺寸、残余应力、结晶度、X射线全谱拟合分析(Rietveld)等，另外也可用于高温X射线衍射分析。

1. 铜靶，光管，正常测试电压电流为40 kV / 40 mA。

2. 常规衍射theta/2theta的测试角度范围为3°~135°，掠入射测试常规衍射2theta角度可至100°。

3. 双光路系统（聚焦光路和平行光路），可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换，因此除常规theta/2theta测试外，还可进行掠入射测试。

4. 大尤拉环样品台，具有X、Y、Z、Chi、Phi五个自由度，五轴马达驱动样品台，既可以满足多种测试功能，还可以批量测试样品。

5. 立式测角仪，样品平放，多晶样品测试过程中样品保持不动，粉末样品不易脱落。

6. 新型的阵列探测器（能量分辨率为380 eV），能自动排除样品中Fe、Co、Ni、Mn等荧光元素的干扰，保证数据具有很好的峰背比，对于测试含荧光元素的样品有着非常明显的优越性。

此台衍射仪日常多进行大量样品的批量测试，数据可以用来完成样品物相的定性和定量分析，点阵参数、晶粒尺寸、结晶度的计算和X射线全谱拟合分析(Rietveld)等。

1. 铜靶，光管，正常测试电压电流为40 kV / 40 mA。

2. 三光路系统（聚焦光路，平行光路，平行光加双晶系统），入射光路配有的双晶单色器，可得到发散角很小的平行光束，用于高分辨的样品测试。

3. 大尤拉环样品台，具有X、Y、Z、Chi、Phi五个自由度，可对样品进行多种测试分析；真空吸附样品台，可进行大尺寸样品的测试。

4. 旋转吸收片，可以进行单晶基片类样品或强织构样品的测试。

5. 配有闪烁探测器和新型阵列探测器两种类型的探测器。

6. 测角仪的角度重复性和角度精确度非常高。

该仪器主要用于薄膜材料的结构分析。日常多用于薄膜样品的反射率测试 (XRR)、单晶样品的高分辨摇摆曲线测试 (HR-RockingCurve)、以及外延薄膜的空间测试 (RSM)等。

1. 铜靶，光管，正常测试电压电流为40 kV / 40 mA。

2. 常规衍射theta/2theta的测试角度范围为3°~135°，掠入射测试常规衍射2theta角度可至100°。

3. 双光路系统（聚焦光路和平行光路），可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换，因此除常规theta/2theta测试外，还可进行掠入射测试。

4. 立式测角仪，样品平放，多晶样品测试过程中样品保持不动，粉末样品不易脱落。

5. 新型的阵列探测器（能量分辨率为380 eV），能自动排除样品中Fe、Co、Ni、Mn等荧光元素的干扰，保证数据具有很好的峰背比，对于测试含荧光元素的样品有着非常明显的优越性。

6. 配备了90位自动换样器，可以批量测试样品，调高测试效率。

此台衍射仪日常多进行大量样品的批量测试，数据可以用来完成样品物相的定性和定量分析，点阵参数、晶粒尺寸、结晶度的计算和X射线全谱拟合分析(Rietveld)等。