X射线衍射仪
仪器简介
X射线衍射仪（XRD）是利用X射线在晶体中的衍射现象，测定物质的晶体结构、物相的定性/定量分析、织构及宏观残余应力、晶粒尺寸、结晶度和点参计算等等，精确的进行物相分析（定性分析、定量分析）。主要用于分析各种多晶样品，如金属材料、半导体材料、陶瓷材料、化工材料、环境材料、生物材料、纳米材料等，广泛应用于材料、冶金、石油、化工、航空航天、半导体等多种领域。
智能X射线衍射仪 (0#)
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主要技术指标
铜靶，光管，测试电压电流为40 kV / 40 mA。
测试角度范围为3° ~ 140°。
立式测角仪，样品平放，多晶样品测试过程中样品保持不动，粉末样品不易脱落。
阵列探测器，保证数据有足够的测试强度。
该仪器配有32位自动换样器，可以批量测试样品，调高测试效率。
2
应用领域
此台衍射仪日常多进行样品物相的定性和定量分析、点参测定、晶粒大小、结晶度和X射线全谱拟合分析（Rietveld）等。
多晶结构分析仪 (1# & 2#)
1
主要技术指标
铜靶，转靶，高功率衍射仪，测试电压电流为40 kV / 150 mA。
左侧角度范围为0.6°~120°，右侧角度范围为0.6°~90°，可以进行小角衍射测试。
立式测角仪，左右两侧可同时独立测试，使用效率高；
左侧配有旋转样品台，可以减小大颗粒样品带来的角度、强度和线形的测量误差。
两侧配有实验室首创的SDD探测记录系统（在峰背比不变的情况下，强度可提高约3倍）。
2
应用领域
此台衍射仪日常多进行样品物相的定性和定量分析，晶粒大小和结晶度分析等。
高功率X射线衍射仪 (3#& 4#)
1
主要技术指标
铜靶，转靶，高功率衍射仪，测试电压电流为40 kV / 150 mA。
测试角度范围为3°~140°。
卧式测角仪，左右两侧可同时独立测试，使用效率高。
左侧配有实验室首创的SDD探测记录系统（在峰背比不变的情况下，强度可提高约3倍）。
右侧配有旋转样品台，可以减小大颗粒样品带来的角度、强度和线形的测量误差。
右侧配有Kα1前单色器和阵列探测器，可以在保证测试强度的情况下，提高测试数据的分辨率。
配有手动吸收片，除了多晶样品外，还可以测试单晶基片上的薄膜样品及强织构样品。
2
应用领域
此台衍射仪日常多进行样品物相的定性和定量分析、点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。晶粒大小和结晶度分析等。
X射线衍射仪 (6#)
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主要技术指标
铜靶，转靶，高功率衍射仪，测试电压电流为40 kV / 150 mA。
测试角度范围为3°~140°。
多功能样品台，旋转吸收片，可以进行单晶基片类样品或强织构样品的测试；除常规theta/2theta测试外，还可以进行2theta/omega测试、摇摆曲线测试、phi扫描测试、极图测试和应力测试等。
立式测角仪，样品平放且测试过程中静止不动，所以可以测试粉末样品，块体样品和薄片样品。
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应用领域
此台衍射仪可进行样品物相的定性和定量分析，点参测定、宏观残余应力、晶粒大小和精细结构分析等。
高温X射线衍射仪 (7#)
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主要技术指标
铜靶，光管，测试电压电流为40 kV / 40 mA。
有高温加热装置，可进行变温测试（温度范围为25℃~900℃）；
双光路系统（聚焦光路和平行光路），可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换，因此除常规theta/2theta测试外，还可进行掠入射测试。
尤拉环样品台，旋转吸收片，可以进行单晶基片类样品或强织构样品的测试；
可进行不同方法的应力测试。
新型的阵列探测器(能量分辨率为380 eV)，能自动排除样品中Fe、Co、Ni、Mn等荧光元素的干扰，保证数据具有很好的峰背比，对于测试含荧光元素的样品有着非常明显的优越性。
2
应用领域
此台衍射仪日常多进行样品物相的定性和定量测试、测试分析点阵参数、晶粒尺寸、残余应力、结晶度、X射线全谱拟合分析(Rietveld)等，另外也可用于高温X射线衍射分析。
X射线衍射仪 (8#)
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主要技术指标
铜靶，光管，正常测试电压电流为40 kV / 40 mA。
常规衍射theta/2theta的测试角度范围为3°~135°，掠入射测试常规衍射2theta角度可至100°。
双光路系统（聚焦光路和平行光路），可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换，因此除常规theta/2theta测试外，还可进行掠入射测试。
大尤拉环样品台，具有X、Y、Z、Chi、Phi五个自由度，五轴马达驱动样品台，既可以满足多种测试功能，还可以批量测试样品。
立式测角仪，样品平放，多晶样品测试过程中样品保持不动，粉末样品不易脱落。
新型的阵列探测器（能量分辨率为380 eV），能自动排除样品中Fe、Co、Ni、Mn等荧光元素的干扰，保证数据具有很好的峰背比，对于测试含荧光元素的样品有着非常明显的优越性。
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应用领域
此台衍射仪日常多进行大量样品的批量测试，数据可以用来完成样品物相的定性和定量分析，点阵参数、晶粒尺寸、结晶度的计算和X射线全谱拟合分析(Rietveld)等。
多功能X射线衍射仪 (9#)
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主要技术指标
铜靶，光管，正常测试电压电流为40 kV / 40 mA。
三光路系统（聚焦光路，平行光路，平行光加双晶系统），入射光路配有的双晶单色器，可得到发散角很小的平行光束，用于高分辨的样品测试。
大尤拉环样品台，具有X、Y、Z、Chi、Phi五个自由度，可对样品进行多种测试分析；真空吸附样品台，可进行大尺寸样品的测试。
旋转吸收片，可以进行单晶基片类样品或强织构样品的测试。
配有闪烁探测器和新型阵列探测器两种类型的探测器。
测角仪的角度重复性和角度精确度非常高。
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应用领域
该仪器主要用于薄膜材料的结构分析。日常多用于薄膜样品的反射率测试 (XRR)、单晶样品的高分辨摇摆曲线测试 (HR-RockingCurve)、以及外延薄膜的空间测试 (RSM)等。
高功率高能量分辨率多功能自动换样X射线衍射仪(10#)
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主要技术指标
铜靶，光管，正常测试电压电流为40 kV / 40 mA。
常规衍射theta/2theta的测试角度范围为3°~135°，掠入射测试常规衍射2theta角度可至100°。
双光路系统（聚焦光路和平行光路），可以实现平行光路和聚焦光路的自由切换，因此除常规theta/2theta测试外，还可进行掠入射测试。
立式测角仪，样品平放，多晶样品测试过程中样品保持不动，粉末样品不易脱落。
新型的阵列探测器（能量分辨率为380 eV），能自动排除样品中Fe、Co、Ni、Mn等荧光元素的干扰，保证数据具有很好的峰背比，对于测试含荧光元素的样品有着非常明显的优越性。
配备了90位自动换样器，可以批量测试样品，调高测试效率。
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应用领域
此台衍射仪日常多进行大量样品的批量测试，数据可以用来完成样品物相的定性和定量分析，点阵参数、晶粒尺寸、结晶度的计算和X射线全谱拟合分析(Rietveld)等。
放置地点&联系方式
清华大学逸夫技术科学楼A144、A147
徐老师/郝老师 62784581
材料测试分析
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